二次離子質(zhì)譜儀的采樣與分析過(guò)程介紹

 

　　1、采樣準備：

 

　　首先，需要將待分析的樣品表面進(jìn)行準備。通常情況下，樣品表面需要進(jìn)行平整處理，以消除表面的粗糙度和污染。然后，在樣品表面上形成一個(gè)純凈、平整的區域，這可以通過(guò)磨削、切割、蝕刻等方法實(shí)現。

 

　　2、離子轟擊：

 

　　接下來(lái)，樣品表面會(huì )被一個(gè)離子束轟擊。離子束可以是惰性氣體（如氬氣）離子束或者聚焦的高能離子束。離子束的轟擊作用將會(huì )導致樣品表面上的原子和分子產(chǎn)生次級離子的發(fā)射。

 

　　3、次級離子收集：

 

　　次級離子在離子轟擊下從樣品表面發(fā)射出來(lái)后，會(huì )被一個(gè)電場(chǎng)吸引并加速到離子透鏡或者光學(xué)元件。接著(zhù)，通過(guò)磁場(chǎng)和電場(chǎng)的作用，次級離子被聚焦并傳輸到質(zhì)譜儀的離子透鏡和加速區域。

 

　　4、質(zhì)譜分析：

 

　　次級離子進(jìn)入質(zhì)譜儀后，首先會(huì )經(jīng)過(guò)一個(gè)質(zhì)量分析器。質(zhì)譜儀通常采用磁扇形型質(zhì)量分析器，通過(guò)磁場(chǎng)的作用，將不同質(zhì)量的離子軌跡彎曲，使得不同質(zhì)量的離子能夠分離出來(lái)。然后，離子被聚焦到一個(gè)離子探測器上，該探測器會(huì )測量離子的數量，并將其轉化為電信號。

 

　　5、數據分析：

 

　　最后，通過(guò)對離子信號的分析，可以得到樣品表面的成分和結構信息。離子信號的強度與相應的元素或化合物的含量相關(guān)聯(lián)。通過(guò)比對已知標準樣品的信號，可以確定未知樣品中的元素含量。此外，二次離子質(zhì)譜儀還可以通過(guò)測量次級離子的質(zhì)荷比和質(zhì)量分析器的精確控制，對樣品中的同位素進(jìn)行定量分析。