国产一区二区三区不卡久久-2017一级黄色片手机免费-日本一区二区久久免费黑人精品-国内精品一区二区三区在线播放

當前位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 等離子體-材料表面 > 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
產(chǎn)品展示
  • TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
    TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。
    時(shí)間：2023-11-22型號：TOF-qSIMS瀏覽量：9261
  • EQS二次離子質(zhì)譜儀
    離子分析質(zhì)譜儀/飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀可分析來(lái)自固體樣品的二次陰、陽(yáng)離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS 探針，便于連結到現有的UHV表面科學(xué)研究反應室。
    時(shí)間：2023-11-22型號：EQS瀏覽量：5174
  • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
    二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動(dòng)測量正、負和中性粒子。
    時(shí)間：2023-11-22型號：SIMS Workstation瀏覽量：2545
    共 3 條記錄，當前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉到第頁(yè) 
Contact Us
  • 聯(lián)系QQ：52436437
  • 聯(lián)系郵箱：[email protected]
  • 聯(lián)系電話(huà)：010 5272 2415
  • 聯(lián)系地址：北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

掃一掃  微信咨詢(xún)

© 2024 英格海德分析技術(shù)有限公司 版權所有  備案號：京ICP備05008133號-4  技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)    管理登陸    sitemap.xml

服務(wù)熱線(xiàn)
13501238067

微信掃一掃